基于四波前横向剪切干涉仪的激光波前测试技术研究
四波前横向剪切干涉仪的出现为精确、快速地测试激光波前信息提供了很好的研究方法.概述了四波前横向剪切干涉仪的测试原理,对532 nm半导体激光器和ZYG O-GPI干涉仪标准激光源的光束波前进行测试,得到平均椭偏率分别为0.977和0.900.通过对测量数据与激光器标称参数对比分析得出四波前横向剪切干涉仪能够精确地测量激光波前信息.
剪切、波前、二维光栅、哈特曼传感器、干涉
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TH744.3(仪器、仪表)
陕西省教育厅重点实验室科研计划15JS037资助项目
2015-12-30(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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