10.3969/j.issn.1672-3392.2007.01.019
氧离子辅助反应蒸发法制备ITO薄膜的研究
采用氧离子辅助电子束反应蒸发工艺在K9玻璃基底上制备了性能优异的ITO薄膜.通过对薄膜方块电阻和透过率的测量分析,研究了基底温度、离子束流、沉积速率等工艺参数对ITO薄膜光电性能的影响.发现升高基底温度有利于减小薄膜的短波吸收,但过高的基底温度会增加薄膜的电阻率,合适的沉积速率可以同时改善薄膜的光学和电学性能.在比较理想的工艺参数下制备的ITO薄膜的电阻率约为5.4×10-4Ω·cm,可见光(波长范围425~685 nm)平均透过率达84.8%,其光电性能均达到实用化要求.
ITO薄膜、氧离子辅助、反应蒸发
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O4(物理学)
2007-03-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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