宇航高速数据电缆用ePTFE薄膜性能研究

摘要：

从膨体聚四氟乙烯(ePTFE)薄膜微观泡孔结构、介电性能这两项影响宇航高速数据电缆衰减性能的关键因素出发,对ePTFE薄膜进行了扫描电镜以及介电性能测试.将测得的ePTFE薄膜的微观泡孔结构电镜图像、介电性能与ePTFE薄膜绕包宇航高速数据电缆衰减的测试结果进行对比,发现采用较优介电性能ePTFE薄膜制成的宇航高速数据电缆的衰减并非较优,微观结构中岛状结点中纳米级孔径孔较多的ePTFE薄膜制成的宇航高速数据电缆衰减较小.

关键词：膨体聚四氟乙烯、数据电缆、衰减、泡孔结构

分类号：TM248(电工材料)

在线出版日期：2019-12-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：12-16