石英光纤熔接损耗特性研究

摘要：

着重对熔接光纤模场直径(MFD)失配和熔接点光纤折射率突变引起的光纤熔接损耗展开试验研究.对前者试验研究结果表明:采用光时域反射仪(OTDR)单向测量时,即使光纤MFD偏差＜0.2 μm时,测得的熔接损耗也会超过0.1 dB,故建议采用OTDR双向测量平均法以减少采用OTDR单向测量法测量系统中的偶然误差;不同公司光纤的OTDR单向测量熔接损耗值较分散,故建议应提高国产光纤制备工艺技术和质量.对后者试验研究结果表明,不同MFD光纤在熔接过程中存在熔接点光纤折射率突变,其相对于进口光纤端只下降了38.24％,而相对于国产光纤端下降了43.74％,这对光纤传输损耗产生了较大影响,故建议应优化国产光纤制备工艺技术.

关键词：石英光纤、熔接损耗、折射率分布

分类号：TN818(无线电设备、电信设备)

资助基金：上海市科委项目;国家国际科技合作专项基金

在线出版日期：2017-06-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：29-32,45