10.3969/j.issn.1006-1908.2007.05.002
EFPI腔内损耗对干涉条纹可见度的影响
利用多光束干涉原理和几何光学方法,分析了非本征F-P干涉仪(EFPI)腔内损耗对干涉仪的影响,详细推导了EFPI腔长与反射光干涉条纹可见度之间的关系,确定了在可测条纹可见度的要求下EFPI腔长的范围.
非本征F-P干涉仪、损耗、条纹可见度
TN253(光电子技术、激光技术)
2007-12-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
6-8
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10.3969/j.issn.1006-1908.2007.05.002
非本征F-P干涉仪、损耗、条纹可见度
TN253(光电子技术、激光技术)
2007-12-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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