熔锥型光纤耦合器的制备与测试

摘要：

论述了熔锥型光纤耦合器的功率耦合理论,利用熔融拉锥法制得了3 dB单模光纤耦合器.利用可调谐光源和光谱分析仪组成的光学测试系统,测试了熔锥型光纤耦合器的附加损耗、方向性与均匀性等光学性能.实验表明,该方法具有制作简单、较低的附加损耗和良好的方向性等优点.利用扫描电子显微镜观察了光纤耦合器的表面,发现在光纤耦合器的锥区存在微裂纹,并且拉伸速度越快,微裂纹越明显;在光纤耦合器的耦合区,光纤表面存在微小晶粒,且拉伸速度越慢,晶粒越粗大.

关键词：光纤耦合器、耦合模理论、熔融拉锥法、微裂纹、析晶

分类号：TN253(光电子技术、激光技术)

资助基金：中国科学院资助项目50235040;教育部跨世纪优秀人才培养计划040753

在线出版日期：2005-12-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：28-30,40