10.3969/j.issn.1006-1908.2003.01.003
单模光纤弯曲损耗的测量与分析
提供了弯曲半径从1.7mm到5.8mm,波长从1520nm到1565nm范围内单模光纤弯曲损耗的测试结果.观察到了弯曲损耗呈震荡变化,随着弯曲半径的增加损耗减小,振幅减小,随着波长的增加损耗增加、振幅增大的现象,并利用光纤的耦合模理论对单模光纤弯曲损耗震荡进行了解释.
光纤损耗、耦合模理论、测量
TN818(无线电设备、电信设备)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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