高速扫描太赫兹系统在珐琅上的应用

摘要：

珐琅在宫廷艺术品中享有重要地位,其制作工艺复杂,为了更好地分析珐琅的制作工艺,各种无损的科技手段都被用于珐琅的研究.太赫兹作为最后一个未被完全开发的波段,近年来被广泛应用于无损检测领域,例如通信、安检和航天等.将太赫兹技术应用于珐琅的保护和修复具有重要意义.本文搭建了基于异步光学采样(ASOPS)的高速扫描太赫兹系统,将此系统用于珐琅的反射成像研究.实验结果表明,胎体和掐丝结构的反射率较高,但边缘图案的反射率没有中间金属反射率高.掐丝结构的金属丝较细,太赫兹图像仍可以清晰地显示出它的形态,但并没有观察到不同珐琅釉料颜色的差别.珐琅片的内部至少有两层结构,分别为胎体层和掐丝釉料层.掐丝珐琅釉料层的表面并不平整而是呈现包络状,可能是在制作珐琅的最后一步磨光的过程中磨得不完全,底层的胎体平整而规则.

关键词：太赫兹、异步光学采样、珐琅

所属期刊栏目：43

分类号：TN206;O439(光电子技术、激光技术)

资助基金：故宫博物院科研课题;北京故宫文物保护基金

在线出版日期：2023-11-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：126-132