基于多次回波数值模拟的涂层缺陷太赫兹无损检测

摘要：

当涂层粘接缺陷厚度过小时,缺陷的太赫兹时域光谱信号与基体反射信号产生混叠,难以从主脉冲信号中获取有效的粘接缺陷特征.通过构建基于传输矩阵法的薄涂层粘接缺陷太赫兹传播仿真模型,对太赫兹波在涂层粘接缺陷结构中的传播特性进行数值仿真分析.结合仿真结果和实际检测信号,提出基于多次回波特征的涂层粘接缺陷识别方法,利用缺陷太赫兹信号偏度特征进行成像,准确识别厚度为50μm和80 μm的涂层样件中预置的10 μm和15 μm粘接缺陷,平均识别准确率达95.2％.

关键词：测量、涂层、粘接缺陷、偏度成像、太赫兹时域光谱、无损检测

所属期刊栏目：42

分类号：O433.1(光学)

资助基金：吉林省教育厅科学技术研究项目JJKH20210823KJ

在线出版日期：2022-09-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：103-110