基于概率密度函数的彩色相位测量轮廓术校正

摘要：

在彩色相位测量轮廓术中,光电器件多个光通道之间的颜色串扰、强度响应不均等因素的影响,使得所获取的相移条纹图像失真,因此采用传统的相位技术求解相位会产生极大的相位误差.从彩色条纹图像的数学模型出发,分析了彩色成像器件所获取的红绿蓝三通道条纹图像特性,提出一种两步校正方法:第一步是基于三通道均值及标准差实现对各颜色通道图像强度的归一化处理;第二步是使用概率密度函数曲线搜索失真后的实际相移量,抑制相移量不准确对测量结果的影响.所提方法不需要对系统的耦合系数和相移偏移量进行预校正,可实现简便、快速的相位误差补偿.模拟及实验结果验证了该方法的有效性.

关键词：测量、相位测量轮廓术、彩色条纹投影、概率密度函数、相位偏移量校正

所属期刊栏目：42

分类号：O438(光学)

资助基金：国家自然科学基金;四川省重大科学仪器设备专项

在线出版日期：2022-06-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共10页

页码：144-153