基于多视方程的高反光物体表面三维形貌测量
双目结构光三维形貌测量技术在测量高反光物体的过程中,左右图像中对应物体表面的不同位置处出现过度曝光的现象,致使对应区域的相位数据无效.首先将投影系统作为反向相机并与双目系统共同组成多视系统,然后对物体表面的每一点进行多视系统匹配,接着通过调制度来判断每一像素对应相位的有效性,舍弃过曝光图像区域的像素以获得双视共线方程,最后由整体多视方程同时实现三维点云重建.该方法能够有效解决坐标系转换、多系统重建结果的数据冗余和融合误差等问题.实验结果表明,所提方法在500 mm×700 mm大小的视场范围内能够很好地对高反光物体进行完整的三维形貌测量.
测量;三维形貌测量;条纹投影;高反光表面;多视方程
41
TP391(计算技术、计算机技术)
国家自然科学基金;教育部春晖计划;四川省重点研发项目
2022-01-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共11页
84-94