条纹投影法中抗噪声干扰的相移编码去包裹方法

摘要：

相位去包裹问题广泛存在于条纹投影形貌测量中.提出了一种相移编码去包裹方法,该方法在求解相位时使用多步相移法,并在额外的一幅编码图像中,将标记条纹级数的编码嵌入到相移量中.解码时,通过分析各像素点处不同相移的光强信息序列,可以求解该点处的编码相移量,从而获得绝对相位.该方法只需要少量图像,且可以逐点去包裹,适用于不连续物体的形貌测量,但是容易受到投影仪和相机的噪声影响.通过增加互补的编码条纹图像,提出了一种改进的相移编码去包裹方法,在实现不连续物体形貌测量的同时,显著增强了噪声鲁棒性.经过仿真分析和实验,验证了所提的相移编码去包裹方法的有效性.

关键词：测量、噪声分析、相移编码、去包裹、条纹投影法、相位分析

所属期刊栏目：40

分类号：O439;O185(光学)

资助基金：国家自然科学基金;国家自然科学基金

在线出版日期：2021-03-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共10页

页码：92-101