用于光谱仪消像差的施密特校正板设计

摘要：

基于施密特系统的基本原理,设计了一种用于光谱仪消像差的施密特校正板,得到了该校正板的面形方程和面形图.利用ZEMAX软件模拟和分析了加入施密特校正板前后光谱仪系统的成像特性.结果 表明:波长为350,550,700 nm时,原始光谱仪像面点斑的均方根(RMS)半径分别为515.843,563.074,885.820 μm,而带有施密特校正板光谱仪像面点斑的RMS半径分别为287.441,252.774,511.816 μm.施密特校正板使点斑尺寸在波长为350,550,700 nm时,分别缩小了44.28％、55.11％、42.23％.所提出的施密特校正板设计方法为改善光谱仪的分辨率提供了技术参考.

关键词：仪器、施密特校正板、像差、光谱仪

所属期刊栏目：39

分类号：O433;O435(光学)

资助基金：天津市科技支撑重点项目15ZCZDGX00250,08ZCKFGX09400;发光学及应用国家重点实验室开放基金

在线出版日期：2019-07-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：198-203