成像系统倍率高精度测量技术研究

摘要：

针对目前尚无高精度通用倍率测量方法与装置的问题,提出了基于双光纤点衍射干涉仪的成像系统倍率高精度测量方法.通过分析双点光源间距、CCD相机空间位置与点衍射干涉场相位Zernike多项式系数之间的定量关系,得到物面光纤间距和像面光纤像点间距的纳米级精度测量值,进而完成对倍率的高精度测量.分别进行仿真分析和实验验证,证明了所提测量方法的可行性和稳定性.结果表明,倍率测量的扩展不确定度为2.64×10-6.所提出的成像系统倍率高精度测量方法具有测量精度高和测量效率高的特点,且具备高可靠性,可以用于显微物镜、光刻投影物镜等高精度成像系统倍率的超高精度测量.

关键词：测量、倍率、Zernike多项式、点衍射干涉法

所属期刊栏目：38

分类号：O439(光学)

资助基金：中国科学院青年创新促进会项目;应用光学国家重点实验室开放基金

在线出版日期：2018-09-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共10页

页码：159-168