像素刻划偏振相机的高精度像素级偏振非均匀性矫正
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10.3788/AOS201737.1111002

像素刻划偏振相机的高精度像素级偏振非均匀性矫正

引用
金属纳米线栅是像素刻划偏振相机的核心器件,线栅上刻划了与光电探测器像元一一对应的微偏振片阵列,该阵列具有较大的非均匀性,对成像质量有较大影响.基于此,根据纳米线栅的结构与偏振传输理论,建立纳米线栅像素级矢量传输矩阵的测量数学模型,并结合矩阵最小二乘法,推导出多次测量以拟合最优传输矩阵的方法,为偏振相机像素级非均匀性矫正提供了核心的矫正参数.然后,兼顾纳米线栅刻划方式,提出了高空间分辨率的矫正算法.通过矫正后,偏振相机非均匀性由原来的2.00%降低至0.26%.外景成像实验中,目标偏振度图像的信息熵由5.34提升至15.15.结果表明,所提算法可以有效矫正纳米线栅的非均匀性,提升了偏振图像质量.

成像系统、偏振相机、偏振成像、偏振非均匀性、矢量传输测距测量、纳米线栅

37

O435(光学)

国家自然科学基金;中国科学院项目(非规范项目);中国科学院项目(非规范项目)

2018-07-30(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共8页

122-129

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0253-2239

31-1252/O4

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2017,37(11)

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