X射线束斑强度分布对EDXRF分析精度影响研究

摘要：

能量色散X射线荧光(EDXRF)光谱法分析复杂背景样品中的低含量元素时,X射线散射产生的干扰会影响系统检测精度,而X射线散射与X射线束斑强度密切相关.利用微光像增强器采集了不同工作电流下X射线束斑的投影图像,用投影光斑外围杂散射线强度表征X射线散射强度,分析得到了减小X射线束斑强度的两种方式,即降低X射线管工作电流和减小准直器孔径.通过实验对比发现,利用EDXRF法分析样品中低组分元素时,用减小准直器孔径的方法来降低X射线散射,要比降低X射线管电流的方式更加有效,且减小准直器孔径的同时增大X射线管工作电流能够提高系统检测精度.实验结果表明,该方法检测土壤中微量元素Cr时,实际相对误差为0.9％～6.6％,相对标准偏差为0.7％～1.5％,经过t检验,p＞0.05,测试结果在统计学上与标准样品结果无显著差异.

关键词：光谱学、射线强度、工作电流、准直器、杂散射线、射线光学

所属期刊栏目：35

分类号：O436(光学)

资助基金：国家自然科学基金61107027

在线出版日期：2015-03-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：334-338