航空推扫高光谱成像仪CCD探测器选型研究

摘要：

在可见近红外(VNIR)波段,信噪比及焦面稳定性是高光谱成像系统的重要性能指标,其中电荷耦合器件(CCD)探测器的合理选型是提高高光谱系统的信噪比及焦面稳定性的重要环节.提出了一种基于CCD像元规模、帧频和像元尺寸三个参数的快速选取符合要求CCD的方法,根据VNIR波段信噪比公式,建立了信噪比与焦深两个模型,根据工程应用系统分析,阐述了选型过程,着重阐述了像元尺寸选型(信噪比选型)的计算,对选型结果进行信噪比和焦深分析,验证了模型建立与选型方法的合理性.结果表明,提出的CCD选型方法可以高效准确地选取符合高光谱成像仪要求的CCD探测器.

关键词：成像系统、高光谱成像、可见近红外、面阵电荷耦合器件、信噪比、像元尺寸

所属期刊栏目：34

分类号：TP732(遥感技术)

资助基金：高分专项民用航空项目30H33D01900613/15

在线出版日期：2014-11-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：85-90