基于压电陶瓷的光相位调制器的调制系数测量及验证

摘要：

实现了一种快速简单有效的测量基于压电陶瓷(PZT)的光相位调制器相位调制系数的方法.利用光纤马赫-曾德尔(M-Z)干涉仪输出光强度与两臂相位差的函数关系,通过3×3解调算法可以计算基于PZT的光相位调制器的相位调制系数.实验中在M-Z干涉仪另一臂加上一个基于PZT的相位调制器以减小系统噪声的影响,并在相位生成载波(PGC)解调实验中作为干扰源.最后通过PGC解调方案解调出了3×3耦合器的第一路输出信号中的干扰信号,实验验证了所测量的结果,表明该方法是行之有效的.

关键词：测量、光相位调制器、马赫-曾德尔干涉仪、3×3解调

所属期刊栏目：33

分类号：TN29(光电子技术、激光技术)

资助基金：国家自然科学基金61177012;中央高校基本科研业务费2012YJSO09

在线出版日期：2013-10-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：76-81