高灵敏度APS CMOS图像传感器光谱探测技术研究
主动像元型(APS)互补金属氧化物半导体(CMOS)图像传感器的成像性能已经接近电荷耦合器件(CCD)的成像性能,在光谱成像领域有很好的应用前景.讨论了CMOS器件用于光谱探测的若干问题,建立了光谱成像系统的噪声模型并进行了实际噪声测试,分析了基于CMOS探测器的成像光谱仪的灵敏度水平;结合CMOS器件的结构和特性给出了图像的校正方法.搭建了包括光学、电子学的完整光谱成像系统,进行了光谱成像试验,验证了灵敏度分析和光谱校正方法.结果表明,CMOS探测器可以满足高光谱成像的灵敏度要求,可用于高光谱探测.
遥感、成像光谱仪、主动像元型互补金属氧化物半导体、光谱探测、灵敏度
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TP732(遥感技术)
2012-10-29(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
121-127