科学级光学CCD暗电流及机械快门时间响应特性测试

摘要：

暗电流在科学级电荷耦合器件(CCD)长时间曝光测试实验中是主要的噪声之一.实验测试了暗电流信号平均计数随曝光时间的变化关系,并经过计算得出-10℃和-20℃下暗电流分别为2.43 ADU/(s· pixel)和0.4854 ADU/(s·pixel),同时测试了暗电流随CCD制冷温度的变化特性,结果显示暗电流随温度类似指数函数形式变化.由于CCD机械快门的时间响应特性对科学级光学CCD的短时曝光计数的影响比较大,实验测试了CCD平均计数和曝光时间的关系,得出实验所用的TEK 512 pixel×512 pixel DB CCD的机械快门在18 ms时能够完全打开.

关键词：光学器件、科学级电荷耦合器件、机械快门、暗电流、时间响应

所属期刊栏目：32

分类号：TN386.5(半导体技术)

资助基金：高温高密度等离子体物理国防重点实验室基金;中南大学研究生教育创新工程项目

在线出版日期：2012-04-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：39-43