基于性能退化数据的超辐射发光二极管可靠性评估研究

摘要：

作为光纤陀螺仪中的关键元件与薄弱环节,超辐射发光二极管(SLD)的可靠性在很大程度上决定了光纤陀螺仪的可靠性.针对其长寿命特点,研究了基于性能退化数据的可靠性评估方法.在对SLD失效机理分析的基础上,提出用正态-泊松复合随机过程模型对产品在环境应力作用下的退化特性进行建模,基于所得模型,由SLD的性能退化信息估计模型中的参数进而评估得到SLD可靠性指标.克服了传统可靠性分析方法依赖寿命数据的缺点,能够在没有寿命数据的情况下评估得到SLD的可靠性指标,从而节约大量的试验经费和时间.

关键词：光学器件、超辐射发光二极管、可靠性、性能退化数据、正态-泊松模型

所属期刊栏目：30

分类号：TN365(半导体技术)

资助基金：国防预研项目513090601

在线出版日期：2011-05-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：3044-3048