相移光栅磁场传感方案交叉敏感分析

摘要：

通过相移光栅的偏振相关损耗(PDL)进行磁场测量是一种较为新颖的磁场测量方法,可用于对脉冲交变强磁场的测量.交叉敏感问题是光纤光栅传感中的关键问题.忽略光栅固有双折射,利用传输矩阵法对磁场传感原理进行了推导与仿真,理论分析了温度、轴向应力和压力等对相移光栅透射窗口的影响,并对相应的PDL峰值变化进行了数值仿真.理论和实验表明,透射窗口峰值的波长随温度和轴向应力呈线性变化,PDL谱线发生横向平移,磁场传感系统不受影响.压力的变化改变了光栅的折射率分布,产生应力双折射,PDL谱线发生不规则变化,对磁场测量结果产生严重影响.

关键词：磁场测量、相移光栅、偏振相关损耗、交叉敏感

所属期刊栏目：30

分类号：TP212(自动化技术及设备)

资助基金：国家自然科学基金;中国博士后科学基金

在线出版日期：2010-09-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：1020-1025