电光调制在被动综合孔径成像探测中的应用

摘要：

介绍了一种新型被动综合孔径成像探测方法:视场辐射信号被接收和放大后,通过电光幅度调制将其幅度和相位信息加载到光波上,经光纤传输在末端形成阵列,通过光学系统直接成像,将视场实时恢复出来.该方法可实现工作在微波、毫米波和太赫兹波段的高分辨力实时成像探测的目的.深入分析了电光调制器在综合孔径成像探测中的应用,建立电光调制模型,讨论了在小信号调制下的电光幅度调制近似理论.通过数值计算与仿真分析,得到综合孔径成像探测中电光调制器的调制信号强度限制的有关结论.结果表明,利用上变频电光调制技术和光信息处理,所得到的成像仿真图的半峰全宽和信噪比性能都优于传统的基于下变频技术的成像仿真结果.

关键词：成像探测、综合孔径、电光调制、上变频

所属期刊栏目：28

分类号：TH751.2(仪器、仪表)

资助基金：武器装备预研基金9140A21041006HK0126;武器装备探索研究项目7130730;航天创新基金06CASC0213-2资助课题

在线出版日期：2008-08-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：1201-1207