基于新型靶的CCD摄像系统畸变测量与校正

摘要：

深入研究了测试图案对测量畸变的影响.提出"一靶测试法"进行畸变测量与校正,拍摄了自行设计、制作的"综合点阵靶板"的畸变图像,图像处理得到其畸变点位置,并与理想点位置进行对应比较.建立多项式模型确定畸变点与理想点的位置校正关系,理想点位置由理想成像得到,并运用最小二乘拟合算法求得多项式系数,标定整个CCD摄像系统的畸变."综合点阵靶板"采用灰色圆点黑色间带图案,方便了点按序标记排列,从而确定畸变点与理想点的一一对应.对2.6 mm焦距的广角CCD镜头摄像系统进行了畸变测量与校正,其重复测量,校正精度达到0.3%.

关键词：测量、CCD摄像系统、畸变校正、多项式模型、图像处理

所属期刊栏目：27

分类号：TN248(光电子技术、激光技术)

资助基金：国防科工委科研项目

在线出版日期：2008-08-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：1440-1442