10.3321/j.issn:0253-2239.2006.04.012
铟封前后透射式GaAs光电阴极光谱响应特性的测试与分析
利用自行研制的光谱响应测试仪工程化样机,对透射式GaAs光电阴极在高温激活结束、低温激活结束以及铟封成管后的光谱响应特性进行了测试.结果显示,铟封后阴极整个响应波段的光谱响应下降,长波响应受到最显著的影响,表现为800~815 nm之间长波响应大幅度衰减,截止波长和峰值波长向短波移动,峰值响应和积分灵敏度减小,最终的光谱响应曲线变得平坦.阴极参量的计算结果反映铟封后阴极的表面逸出几率降低,说明铟封引起阴极表面激活层发生变化,使得能量较低的长波段光生电子不容易逸出,阴极长波响应和灵敏度随之降低.进一步分析了铟封过程中影响阴极表面激活层的因素.
光电子学、GaAs光电阴极、铟封、光谱响应测试、长波响应、逸出几率
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TN214(光电子技术、激光技术)
2008-08-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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