在电子散斑干涉中利用反相位法进行三维变形测量

摘要：

提出一种可将离面位移与面内位移分离的三维位移计算方法.在双光束电子散斑干涉系统中增加一路参考光,使这一路参考光为两光束所共用.两束光各自独立地对变形物体进行测量,分别计算相位分布,并对其中之一进行反相位计算.理论分析表明,对二路检测光所得到的相位进行相减运算,就能够较好地减少电子噪声的影响,分离面内位移场与离面位移,实现物体变形的三维测量.介绍该方法的原理,并利用典型实验证实了该方法的可行性.

关键词：光学测量、电子散斑干涉、相移、相位计算、三维位移

所属期刊栏目：26

分类号：O436.1(光学)

资助基金：山东省教育厅资助项目01901

在线出版日期：2008-08-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：193-196