用低精度CCD获得高精度测量方法的研究

摘要：

为了大幅提高线阵CCD的测量精度,提出了一种全新的CCD使用方法.该方法是将N个像元间距为H的线阵CCD器件并排组合在一起,并沿像元线性分布方向以距离为H/N依次均匀错开排列.多个线阵CCD的感光电信号经多通道模-数同步采集,保存到存储器中指定位置.然后,通过对所有CCD测量数据的分析计算来获得精确的测量值.分别采用单CCD和双CCD错排对长为30mm,直径为5.000 mm、8.000 mm、12.000 mm的三个标准杆件的直径进行了测量.结果表明,双CCD错排可获得两倍于单CCD的测量精度.该方法可从理论上彻底打破CCD像元间距的限制,并使线阵CCD的测量精度大幅度地提高.

关键词：测量、CCD像素错排、非接触式测量、像元间距

所属期刊栏目：25

分类号：TP391.41(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金90410013

在线出版日期：2008-08-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1488-1492