10.3321/j.issn:0253-2239.2005.10.009
光纤马赫-曾德尔干涉法测量极化聚合物的电光系数
报道了用光纤马赫-曾德尔干涉法测量极化聚合物电光系数的方法和原理.该方法不仅可以测量聚合物薄膜的电光系数而且可以测量聚合物波导的电光系数,并且该方法可以同时测量聚合物的电光系数张量元r13和r33.该方法最突出的优点是不必在聚合物薄膜的表面制备第二个电极,因此尤其适合于在电光聚合物试制阶段测试聚合物的电光系数.干涉仪的输出被反馈到参考臂中控制相位偏置点的压电陶瓷,从而实现对干涉仪相位偏置点的闭环控制,因此降低了对环境稳定性的要求并且提高了测量精度.实际测试了极化聚合物薄膜PMMA-DR1的电光系数张量,其测量值r13=8.3 pm/V,r33=25.7 pm/V.
光纤通信、光电子器件、极化聚合物、电光系数、马赫-曾德尔干涉仪
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TN256(光电子技术、激光技术)
国家自然科学基金90204006,60377013;中国博士后科学基金2003034258;高等学校博士学科点专项科研项目20030248035;上海市科委资助项目036105009
2008-08-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
1339-1342