萨伐尔偏光镜横向剪切量和光程差的精确计算

摘要：

研制了基于萨伐尔偏光镜的稳态偏振干涉成像光谱仪(SPIIS),阐述了其分光机理.应用光线追迹法以及光线折射率的概念,分析了计算光在双折射横向剪切分束器--萨伐尔(Savart)偏光镜中的传播规律和光线路径;给出了任意角度入射时,萨伐尔偏光镜横向剪切量和光程差的理论计算公式.较目前所报道的,仅给出入射面与主截面平行时横向剪切量的特殊情况,具有更普遍的指导意义;为新型偏振干涉成像光谱仪的设计、研制、调试和工程化提供重要理论和实践指导.

关键词：几何光学、单轴晶体、偏振干涉成像光谱仪、萨伐尔偏光镜、横向剪切量、光程差、光线追迹

所属期刊栏目：25

分类号：O734(晶体物理)

资助基金：国家自然科学基金40375010,60278019;陕西省科技攻关项目2001K06-G12

在线出版日期：2008-08-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：885-890