隐失驻波全内反射荧光显微术的数值计算

摘要：

从理论上详细计算了在全内反射的条件下,两束入射光产生的隐失干涉场(即隐失驻波)的强度分布,并分析了其不同于传统传播波干涉场的特点.同时使用数值模拟证明了利用隐失干涉场,即隐失驻波的激发方式,可以提高系统的分辨力,在横向实现超经典分辨的荧光成像.具体的分析表明,两柬光以相等的角度入射,同时振幅相等,偏振态相同,所形成干涉条纹的反衬度最高,此时成像系统的有效点扩展函数最优化;入射介质1的折射率越大,隐失干涉场的空间周期越短(空间频率越高),其对应的调制点扩展函数中心瓣的半峰全宽越小,可能分辨更小的物体,但同时旁瓣的强度也增强,最终成像的分辨力受两者的共同制约.

关键词：荧光显微术、隐失驻波成像、有效点扩展函数、全内反射

所属期刊栏目：24

分类号：TH742.65(仪器、仪表)

资助基金：国家自然科学基金60078025;国家重点基础研究发展计划973计划G1999075200;上海市科技发展基金01DJGK018

在线出版日期：2004-06-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：536-541