10.3321/j.issn:0253-2239.2001.06.008
Cu/Ti超晶格薄膜的强紫外反射性能研究
采用直流磁控溅射方法制备了一维二组元Cu/Ti周期超晶格金属薄膜,研究了基片温度、膜周期数、基片取向与紫外反射的关系。当基片加热温度为470 ℃时,在硅(100)晶面上生长的30层Cu/Ti膜,层间膜厚控制在1∶3、膜总厚度控制为300 nm时,所制备的超晶格薄膜在5°入射角下对200nm的紫外光,其反射率可高达90%。
磁控溅射、Cu/Ti超晶格膜、紫外光、反射率
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O484.4+1(固体物理学)
2008-08-04(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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