纳米级ZrO2(Y2O3)粉体材料的X-射线荧光光谱分析

摘要：

@@ 纳米氧化锆是制备特种陶瓷最重要的原材料之一,通常不仪需要在纳米尺度上对材料进行表征,而且还需要测定其化学组成.尤其在材料的生产过程中,随时要对材料的化学组成进行检测.采用化学分析方法流程长、速度慢.而X射线荧光光谱法具有成本低、快速、准确的特点.本文选择粉末压片法制样,用Lucas-Tooth-Pyne强度校正模式,测定了纳米ZrO2(Y2O3)粉体中的ZrO2,Y2O3,Cl等成分,结果令人满意.

机标关键词：纳米级、粉体材料、射线荧光光谱法、光谱分析、DETERMINATION OF、化学组成、化学分析方法、纳米氧化锆、粉末压片法、特种陶瓷、生产过程、纳米尺度、测定、正模式、原材料、制样、选择、流程、检测、成本

所属期刊栏目：21

分类号：O65;X50

在线出版日期：2004-12-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：270-271