经颅磁刺激同步脑电活动伪迹去除方法的研究进展

摘要：

经颅磁刺激同步脑电( TMS-EEG)技术是研究大脑功能网络的有效手段,但TMS过程中诱发的伪迹一直是阻碍TMS-EEG技术发展的瓶颈.阐述了TMS和EEG技术结合产生伪迹的原因,从伪迹的来源入手,就TMS放电伪迹、肌电伪迹、听觉伪迹及残留伪迹等方面,总结了近十几年来文献中提到的伪迹去除方法,并对相关技术的未来发展作了展望.可以预计,由于其诱人的应用前景和极高的研究价值,在未来几年里经颅磁刺激技术无论在理论上还是临床上,将会有一个大的突破,TMS诱发伪迹的问题也将会得到很好的解决.

关键词：脑电、伪迹去除、经颅磁刺激

所属期刊栏目：34

分类号：R741.044(神经病学与精神病学)

资助基金：国家自然科学基金资助项目60871090

在线出版日期：2012-03-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：362-366