一种优化FPGA内嵌BRAM自检测March C+算法

摘要：

在现场可编程门阵列内嵌块存储器(BRAM)测试中,传统测试方法存在故障覆盖率不高、测试内容较多、测试成本较高等问题.为了提高故障覆盖率,在March C+算法的基础上,提出一种March CG新算法.该算法通过增加连续写操作和测试算法的数据背景提高字内耦合故障、写干扰故障覆盖率.构建高效率存储器内建自测试电路,采用March CG算法实现对单个BRAM和多个BRAM的测试.实验表明,在单个BRAM测试中,相比March C+算法,March CG算法对故障的覆盖率提高了 13.6％;在多个BRAM测试中,对BRAM资源的覆盖率达到了 100％.

关键词：存储器内建自测试、块存储器、March C+、故障覆盖率

所属期刊栏目：41

分类号：TN4(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金;江苏省自然科学基金

在线出版日期：2022-10-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：1-7