基于改进的SIFT算法的集成电路图像拼接

摘要：

使用显微镜获取集成电路的局部图像,再经过图像拼接技术得到完整的集成电路图像,由于在显微镜特性的限制,在特殊场景下(光照不足、发生旋转、图像缺失)的效果并不理想.提出一种基于尺度不变特征变换(scale-invariant feature trans-form,SIFT)算法的配准改进算法,对显微镜获取的特殊场景下的集成电路图像进行拼接.该方法在配准阶段采用改进的高维索引树(k-dimensional tree,KD-tree)算法对特征点基于准欧氏距离进行双向配准.与其他算法在不同场景下的结果进行对比,证明该算法可以较好的满足集成电路图像在不同场景下的拼接需求.

关键词：显微图像、图像拼接、SIFT算法、KD-tree算法

所属期刊栏目：40

分类号：TP319.56(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2021-08-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：159-164