边界扫描测试系统的设计与实现

摘要：

为了解决复杂电路板的测试点少和测试覆盖率低以及传统的测试设备体积大、成本高等问题,IEEE1149.1标准被公布并发展出了边界扫描技术.本设计以边界扫描技术为基础,开发出由测试软件、测试控制器以及目标电路板组成的边界扫描测试系统,并通过对目标板的故障测试,验证了该系统满足完整性测试,互联测试的设计要求且对印刷电路板(PCB)和集成电路(IC)制造和使用过程中出现的桥接故障和呆滞故障有良好的故障诊断、定位功能.

关键词：边界扫描、故障诊断、IEEE1149.1、测试控制器

所属期刊栏目：35

分类号：TP206+.3(自动化技术及设备)

在线出版日期：2016-09-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：82-85,91