基于 SPEA-II 算法的 SoC 测试多目标优化研究

摘要：

测试功耗、测试时间是SoC测试优化中的两个测试目标，它们之间存在相互影响的关系。在多目标优化过程中，进化算法对于解决多目标优化问题拥有比较好的优化效果，因此各种进化算法被广泛地应用于SoC测试多目标优化的研究中。对SoC测试时间、测试功耗这两个测试目标建立联合优化模型，分析了NSGA‐II算法与SPEA‐II算法的特点，并对改进型强度Pareto进化算法（SPEA‐Ⅱ）进行研究，进而将SPEA‐II算法用于上述所建立模型的求解。使用ITC’02标准电路中p93791电路和d695电路对上述方法进行实验验证，实验数据表明上述方法可以求得该联合优化模型的一组最优解；并且针对p93791电路，在与NSGA‐II算法的实验数据比较中，得到了更好的优化结果。证明了SPEA‐II算法对SoC测试结构优化方面具有良好的适用性和可行性。

关键词：SPEA-II算法、SoC测试、测试时间、测试功耗

分类号：TP302(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金61102012;广西自动检测技术与仪器重点实验室主任基金Y Q 14105项目

在线出版日期：2015-09-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：29-33