R & S公司宽带无线综测仪 CMW500助力高通验证新一代芯片的性能和用户体验

摘要：

2015年5月28日，高通公司在北京举办了“全连接·新惊艳”无线连接技术分享会，针对目前无线连接的标准及移动终端未来的发展趋势进行了详细解读，并在活动上成功展示了新一代LTE‐Advanced高通芯片的性能。此次，罗德与施瓦茨公司（R&S ）携带其宽带无线综测仪 R&S CMW500、多CMW控制器 R&S CMWC组件测试环境，以协助高通更好的向到会用户及媒体朋友展示新一代芯片技术精彩的性能提升。

机标关键词：宽带无线、验证、芯片技术、性能、无线连接、移动终端、连接技术、发展趋势、测试环境、施瓦茨、全连接、控制器、组件、助高、用户、提升、媒体、解读、活动、标准

分类号：TP3;TN9

在线出版日期：2015-07-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共1页

页码：94-94