生生不息——我国集成电路测试的自主创新之路

摘要：

1、 《国外电子测量技术》(以下简称“FEMT”)2009年11月,北京自动测试技术研究所与中国科学院微电子研究所共同成立北京集成电路测试技术联合实验室,经过5年的发展,现在的规模如何?取得了哪些成果?张所长:2009年11月,北京自动测试技术研究所与中国科学院微电子研究所共同成立北京集成电路测试技术联合实验室,于201 1年被北京市认定为第一批市级重点实验室.在这5年的发展中,突破了混合信号IC测试的高速、多管脚、高频及多路并测试等关键及难点技术,实现了为我国“核高基”专项自主研发的高端通用芯片提供测试技术支撑;在对新一代电力电子器件测试的国产化问题上,突破了击穿电压±3 000 V/50 mA,脉冲式输出电流500 A这一关键技术,解决了功率器件的高压大电流条件下动态参数的测试,降低了国内企业的测试成本,提高了企业在市场中的竞争力;针对国内太阳能电池模块的测试需求,对电池模块光谱响应技术进行攻关,研究太阳能电池模块的测试方法,确定太阳能电池模块测试方案,创新开发出太阳能电池模块Ⅰ-Ⅴ特性测试系统,实现了太阳能电池模块多项参数的测试.

机标关键词：集成电路测试、自主研发、电池模块、自动测试技术、太阳能、中国科学院、联合实验室、电子研究所、北京、电子测量技术、重点实验室、高压大电流、输出电流、器件测试、企业、技术支撑、击穿电压、混合信号、国内、光谱响应

所属期刊栏目：33

分类号：TM9;TP1

在线出版日期：2015-01-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：1-3