精益定制助力高效测试测量系统架构
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1002-8978.2014.11.007

精益定制助力高效测试测量系统架构

引用
2014年11月18日下午,由中国仪器仪表学会电子测量与仪器分会(以下简称“分会”)、上海聚星仪器有限公司(以下简称“聚星”)联合主办的“精益定制”您的仪器--测试测量应用及系统架构巡回研讨会北京站在北京丽亭华苑酒店成功召开。来自65余个单位的140余人参与了这场研讨会。此次巡回研讨会分别于11月18日、11月21日、12月2日、12月8日、12月10日在北京、沈阳、上海、广州、厦门5个城市举办。

测试测量、仪器仪表、北京、巡回、系统架构、上海、联合主办、电子测量、测量应用、中国、学会、厦门、沈阳、人参、酒店、广州、单位、城市

TH4;G25

2015-01-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共2页

19-20

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

国外电子测量技术

1002-8978

11-2268/TN

2014,(11)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn