优化SOC测试时间的扫描链平衡及NSGA-Ⅱ设计

摘要：

片上系统SOC测试时间很大程度上取决于Wrapper和测试访问机制TAM(test access mechanism)的设计.为了优化SOC测试时间,主要对Wrapper和TAM进行设计,降低单个核的测试应用时间靠优化的Wrapper,在差值二次分配平衡扫描链的基础上,对TAM进行划分,以测试时间和TAM宽度为目标进行优化,运用非支配排序目标遗传算法(NSGA-II)对模型进行求解,并采用ITC'02标准电路中的d695电路为实例进行验证,结果表明该方法与基于SA、ILP算法相比,能够在降低SOC测试时间上获得较为理想的效果,并且降低相应的测试功耗,证明本实验方法切实可行.

关键词：SOC、差值二次分配、测试时间、TAM、NSGA-Ⅱ

所属期刊栏目：33

分类号：TN206(光电子技术、激光技术)

在线出版日期：2014-08-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：32-35