选择正确的频谱分析仪架构以减少发射机测试时间

摘要：

1 引言测试高性能发射机时,由谐波、寄生干扰、互调产物和频率变换产物引起的低电平杂散发射是设计者遇到的最费时间的测量.为了获得可接受的信噪比(Signal Noise Ratio,SNR),测量仪器本身的热本底噪声应比这些杂散发射电平低10 dB.本底噪声由仪器设计、分辨率带宽选择、以及由检测信号使用的技术决定.带宽每减少10倍,本底噪声相应地减少10 dB.然而,降低本底噪声的代价是显著增加测量时间.选择刚好适合杂散电平要求的带宽是保持可接受的总测量时间的关键.

机标关键词：带宽选择、频谱分析仪、架构、发射机、本底噪声、杂散发射、测量时间、杂散电平、Noise Ratio、仪器设计、频率变换、检测信号、技术决定、测量仪器、信噪比、高性能、分辨率、低电平、谐波、寄生

所属期刊栏目：32

分类号：TN9;TP7

在线出版日期：2013-09-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：17-20