PXI TAC 2013:延续自动化测试和控制领域的摩尔定律

摘要：

2013年5月28日,第十届”中国PXI技术和应用论坛”在北京召开.作为已经连续举办9届的PXI技术盛会,此次PXI TAC吸引了14家来自国内外的知名PXI厂商以及超过500名工程师和技术人员参加.NI核心平台和仪器研发副总裁Robert Canik先生,NI中国技术市场工程师姚远先生,中国计量科学研究院信息计量研究室主任卞昕博士分别做了题为 《PXI技术发展与展望》、《PXI引领仪器应用新时代》和《为计量定义PXI》的主题演讲,介绍了PXI技术最新的发展以及应用案例.除此之外,全天共有20多场报告和专门的应用展示区域供参会人员交流.

机标关键词：自动化测试、控制领域、技术市场、应用案例、中国、计量科学研究、工程师、主题演讲、仪器应用、人员交流、技术人员、技术发展、计量研究、核心平台、应用论、信息、时代、区域、国内、厂商

所属期刊栏目：32

分类号：U46;TH8

在线出版日期：2013-07-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：49-50