TD-LTE测试系统载波泄漏测量不确定度评定

摘要：

TD-LTE终端载波泄漏是由交调引起的干扰,是TD-LTE射频一致性测试系统的一个非常重要的技术指标,通常可以用TD-LTE无线终端综合测试仪来测量.本文阐述了如何运用数学模型,开展载波泄漏的策略不确定度评定的方法.根据实验室的测量环境及测量仪器设备,依据评定准则,重点讨论了误差产生来源,确定了影响载波泄漏测试稳定性的主要因素,给出了相应不确定度的计算方法.最终实现了TD-LTE终端载波泄漏测量不确定度的评定,并给出了测量结果.

关键词：TD-LTE、载波泄漏、测量不确定度、评定

所属期刊栏目：32

分类号：TM930

在线出版日期：2013-08-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：49-51