基于IEEE1149.7的TAP控制器命令研究

摘要：

随着待测芯片的集成度越来越高,IEEE 1149.1标准已很难满足芯片设计对测试与调试的要求.IEEE1149.7标准在保持与IEEE1149.1兼容的基础上增加了新功能,提供了一种全新的双引脚测试与调试方法.目前对IEEE1149.7的研究处于起步阶段,所以研究支持其的控制器命令对今后的发展具有重要的意义.本文在深入研究IEEE 1149.7标准的基础上,利用Quartus Ⅱ开发平台设计了基于TAP控制器命令的测试控制器,并进行了仿真验证.结果表明产生的命令测试信号符合IEEE 1149.7标准对TAP控制器命令的规定.

关键词：IEEE 1149.7标准、TAP控制器命令、边界扫描、测试控制器

所属期刊栏目：32

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2013-08-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：41-43,56