含FPGA电路板的测试诊断方法研究

摘要：

随着微电子技术的不断发展,越来越多的FPGA等复杂逻辑器件应用到武器装备电路板上,使电路板结构功能日趋复杂,导致传统的方法已不能对该类电路板进行有效的测试.为此,文章首先通过对FPGA的结构分析来说明FPGA测试的特殊性与复杂性,然后针对各种测试方法的优缺点,提出一种LASAR软件与ATE测试平台相结合的方法.

关键词：测试、FPGA、LASAR、ATE

所属期刊栏目：30

分类号：TN47;TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2012-03-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：44-47