星型边界扫描拓扑的测试方法研究

摘要：

针对在串行边界扫描拓扑中不能对测试存取端口控制器直接寻址而导致测试速率降低的问题,IEEE 1149.7标准提出了可直接寻址的星型拓扑测试方法.以该标准为依据,利用QuartusⅡ软件设计了在测试系统中具有关键作用的边界扫描测试控制器,介绍了星型拓扑结构的测试原理与测试流程、控制器的结构与作用.仿真结果表明控制器能够产生符合标准的测试信号,具有良好的可行性与有效性,对测试系统的构建具有积极的意义.

关键词：边界扫描、星型扫描拓扑、串行等价扫描

所属期刊栏目：30

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：广西研究生科研创新项目2010105950804M33

在线出版日期：2011-10-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：54-57