基于DDS与MCU的电参数测量系统设计

摘要：

提供了一种采用可编程DDS芯片和MCU实现自动测量RLC参数的测量系统.系统以C8051F120 MCU为控制核心,通过DDS模块产生测试用正弦波,利用电抗元件串联分压原理,实现对电阻、电容、电感的精确测量.系统以液晶屏显示测量结果,并可根据需要打印测量的结果.测量系统结构简单,并进行了抗干扰设计,具有较好的抗干扰能力,保证系统可靠工作.

关键词：DDS、电阻电容电感测量、抗干扰

所属期刊栏目：30

分类号：TP311(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2011-09-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：47-49,66