确保更精确的高电阻测量

摘要：

@@ 0引言
高电阻测量已成为多种测试应用的组成部分,包括印制电路板的表面电阻(SIR)测试、绝缘材料和半导体的电阻率测量、高欧姆值电阻的电压系数测试等.确保高电阻测量(即高于1G[109欧姆J的电阻)的精度需要使用大量的特殊技术和仪器,例如静电计、源测量单元(SMU)、或皮可安培计/电压源组合.静电计可以采用恒压或恒流的方法测量高电阻.

机标关键词：电阻测量、resistance measurement、高电阻、静电计、系数测试、源测量单元、印制电路板、技术和仪器、电阻率测量、绝缘材料、电压源、测试应用、表面电阻、半导体、安培计、组合、精度、恒压、恒流、方法

所属期刊栏目：29

分类号：TM8;TM7

在线出版日期：2010-11-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：6-7