SDRAM测试方法的研究和实现

摘要：

SDRAM与其它存储器相比,具有速度快、容量大、价格低、集成度高的优势;然而,SDRAM的测试却是一大难题.针对国内用户测试该类集成电路困难的现状,本文旨在研究SDRAM及相关测试理论,并以HY57V281620为例,实现了在国产ATE上SDRAM测试程序的开发.通过验证,该方法可以很好的解决长期以来SDRAM入库测试难的问题.

关键词：算法图形产生器、测试向量、自动测试仪、SDRAM

所属期刊栏目：27

分类号：TP274.5(自动化技术及设备)

在线出版日期：2008-07-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：12-15